Комплексное радиационно-стойкое решение для космического применения на основе ПЛИС, разработанного в BMTI

Одиночные эффекты типа SEU/SET, проявляющиеся в условиях космического пространства, могут нарушить корректное функционирование ПЛИС. В статье рассмотрены программно-аппаратные методы повышения радиационной стойкости ПЛИС на базе статического ОЗУ. Пекинский институт микроэлектронных технологий (Beijing Microelectronics Technology Institute — BMTI) предлагает готовое решение на основе радиационно-стойкой ПЛИС и специального интеллектуального чипа, так называемого scrubbing chip, выполняющего функции проверки корректности кода микросхемы конфигурационной памяти. Для оценки эффективности применения этого решения была создана методика с использованием облучения тяжелыми заряженными частицами.

2015-07-12

УДК 621.383.8+004.932

Чжао Юаньфу, директор Пекинского института микроэлектронных технологий (BMTI), профессор, Ph.D.; www.bmti.com.cn
Чэнь Лей, директор международного департамента BMTI, профессор, Ph.D.
Ли Ксюву, директор департамента FPGA BMTI, профессор, Ph.D.
Фэнг Чанглей, руководитель отдела департамента ПЛИС BMTI, ведущий инженер
Ванг Шуо, руководитель отдела ПО департамента ПЛИС, инженер BMTI

Ключевые слова: FPGA, SEU, интеллектуальный чип.

Статья опубликована в № 7 журнала «Электросвязь» за 2015 г.59-6212

Комплексное радиационно-стойкое решение для космического применения на основе ПЛИС, разработанного в BMTI

Рубрики и ключевые слова